[发明专利]一种用于辉光放电质谱仪检测的样品的制备方法在审
| 申请号： | 202110395842.1 | 申请日： | 2021-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN115201319A | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 谭秀珍;李瑶;李江霖;邓育宁;朱刘 | 申请（专利权）人： | 广东先导稀材股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/68 | 分类号： | G01N27/68;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 杨威 |
| 地址： | 511878 广东省清*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于辉光放电质谱仪检测的样品的制备方法，包括以下步骤：a)将待测样品通过PTFE模具与镓结合，得到用于辉光放电质谱仪检测的样品。本发明通过将小尺寸、不规整的块状样品和镓凝固在一起，或将粉末样品压在Ga的表面的制样方法，可以测定样品中的In及除镓以外的其它杂质含量；此方法和In包裹制样的方法互为补充，可以获得样品更全面的杂质信息，同时，和钽勺的制样方法相比，此方法扩宽了可测定的样品尺寸范围，同时也避免了钽勺装载粉末样品时，被仪器抽真空抽走的问题；从而能够同时满足小块状样品和粉末样品的检测要求，并且可用来测定尺寸小于11mm的不规整块状导体、半导体样品和粉末样品中的In及其它杂质含量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 辉光 放电 质谱仪 检测 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
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