[发明专利]一种光源及其设置方法、光学检测方法及系统在审
| 申请号： | 202110381305.1 | 申请日： | 2021-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN113155845A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 于常青 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01;H05B47/10;H05B47/155 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光源及其设置方法、光学检测方法及系统，其通过获取标准样品在相机视场范围内的图像灰度分布特性数据；根据图像灰度分布特性数据调整光源的发光强度分布，光源为面阵发光器件，面阵发光器件包括发光强度可控的发光单元；其利用调整后的光源对被检测产品进行照明，调整面阵照明光源的发光强度分布，将补偿后的亮度分布反馈给光源，进行补偿亮度分布的照明，避免高反射区域图像饱和，同时提高低反射区域的图像亮度，从而提高被其照射的被检测物体的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光源 及其 设置 方法 光学 检测 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司，未经武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110381305.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
