[发明专利]导电薄膜的振动性能测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202110374680.3 | 申请日： | 2021-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN112945497A | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 刘科海;杨方友;张超;林智君;陈益;王恩哥 | 申请（专利权）人： | 松山湖材料实验室 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 付兴奇 |
| 地址： | 523808 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种导电薄膜的振动性能测试装置及测试方法，属于导电薄膜的振动性能测试技术领域。该振动性能测试装置包括绝缘盖和导电薄片。导电薄片设置于绝缘盖且用于连接第一电极；绝缘盖被配置成安装用于连接第二电极的导电薄膜时，导电薄片与导电薄膜间隔设置，且能够使导电薄膜振动。该装置中，导电薄膜和导电薄片间隔设置在绝缘盖上以后，将导电薄片电连接第一电极，导电薄膜电连接第二电极，在导电薄膜周围形成磁场，从而使导电薄膜发生振动，然后通过其他的设备，监测薄膜的振动频率以及振幅等，从而检测薄膜的振动性能。 | ||
| 搜索关键词： | 导电 薄膜 振动 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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