[发明专利]同轴结构测试座在审
| 申请号： | 202110361054.0 | 申请日： | 2021-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN113156174A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 黄光敏;谢伟;吴丽 | 申请（专利权）人： | 昆仑伟思微电子（珠海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/18 | 分类号： | G01R1/18;G01D11/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 郑晨鸣 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市金湾区红旗镇*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及测试设备，特别涉及一种同轴结构测试座。本发明公开了一种同轴结构测试座，包括第一针板、第二针板以及探针导体，第一针板设置有第一孔，第一孔设有第一绝缘件，第一针板由金属材料制成；第二针板与第一针板贴合，第二针板设置有与第一孔对应的第二孔，第二孔设有第二绝缘件，第二针板设置由金属材料制成，探针导体与芯片连接，探针导体用于导出芯片的电信号，探针导体包括信号探针以及接地探针，信号探针穿过第一绝缘件与第二绝缘件，接地探针电连接第一针板和第二针板。本发明能够防止外部的电磁信号对探针导体传导的信号干扰，及相邻探针导体之间的电磁信号串扰。 | ||
| 搜索关键词： | 同轴 结构 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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