[发明专利]一种用于暗室背景电平评估测试的低散射载体在审

专利信息
申请号: 202110347454.6 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN113075626A 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 贺秋实;汪勇峰;戚开南 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01S7/36 分类号: G01S7/36;G01S7/02
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 张沫
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种用于暗室背景电平评估测试的低散射载体,所述低散射载体的外形为水滴形,具有头部和相对于头部相对较尖的尾部,所述尾部的夹角α为10°至60°;所述载体具有上表面和下表面;所述上表面为向上突出的曲面;所述下表面为平面,所述下表面的中部设计有用于与转顶固定连接的圆形接口;所述上表面与下表面无缝连接。本发明评估设备与支架接口一体化结构设计,使设备与支架转顶能平滑连接,接口处曲率一致,无明显阶差,缝隙、螺钉处用铝箔或导电胶封盖,可消除设备底部边缘、内腔结构散射干扰,这对在测试中获取暗室背景电平响应的准确性至关重要,广泛的推广应用后会产生良好的经济效益和社会效益。
搜索关键词: 一种 用于 暗室 背景 电平 评估 测试 散射 载体
【主权项】:
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