[发明专利]低1/f噪声探测器及其像元以及降低非制冷探测器1/f噪声的方法有效

专利信息
申请号: 202110339272.4 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113252184B 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 黄立;蔡光艳;马占锋;汪超;王春水;高健飞;黄晟 申请(专利权)人: 武汉高芯科技有限公司
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20;G01J5/48
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 胡建文
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种低1/f噪声探测器像元及采用该像元的非制冷探测器,该像元包括衬底和有效元,有效元包括桥面层,桥面层包括自上而下层设的顶面吸收层和多层热敏感层,相邻两层热敏感层之间通过绝缘层分隔,各热敏感层联接形成有效元电阻结构,有效元电阻结构的阻值与有效元设计阻值匹配。另外还涉及一种降低非制冷探测器1/f噪声的方法,包括:对非制冷探测器的至少部分像元进行降噪处理,对像元的降噪处理包括增大其有效元的敏感材料电阻有效面积;和/或,增大盲元的敏感材料电阻有效面积,以对盲元进行降噪处理。本发明通过增加热敏感层数量,在满足探测器设计要求的前提下,可以增大有效元的敏感材料电阻有效面积,达到对像元和探测器降噪的效果。
搜索关键词: 噪声 探测器 及其 以及 降低 制冷 方法
【主权项】:
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