[发明专利]一种静态参数测试系统、方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110334939.1 | 申请日： | 2021-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN113176484A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 刘冲;张珊;曹玉峰;李洁;阚劲松 | 申请（专利权）人： | 中国电子技术标准化研究院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京头头知识产权代理有限公司 11729 | 代理人： | 刘锋;宋国云 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种静态参数测试系统、方法、电子设备及存储介质，系统包括：第一测量模块、第二测量模块、第三测量模块、第四测量模块、第五测量模块、第六测量模块中的至少一种测量模块，所述第一测量模块、第二测量模块、第三测量模块、第四测量模块、第五测量模块、第六测量模块通过切换模块与测量夹具相连接，所述第一测量模块、第二测量模块、第三测量模块、第四测量模块、第五测量模块、第六测量模块之间通过总线相连接；以解决现有技术中，针对固态微波功率器件静态参数测量系统，测量结果不准确、测试系统结构复杂、体积大、质量重的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 静态 参数 测试 系统 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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