[发明专利]一种光学膜裁切质量的评估方法及系统有效
| 申请号： | 202110333908.4 | 申请日： | 2021-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN113076636B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 张军;石光权;刘勇 | 申请（专利权）人： | 南京贝迪新材料科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01D21/02 |
| 代理公司： | 南京九致知识产权代理事务所(普通合伙) 32307 | 代理人： | 严巧巧 |
| 地址： | 211000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学膜裁切质量的评估方法及系统，其中，所述方法包括：获得第一光学膜的类型信息；获得所述第一光学膜的硬度信息；通过干涉法获得所述第一光学膜的第一平整度信息；将所述第一光学膜的类型信息、所述硬度信息和所述第一平整度信息输入评估参数估计模型，获得第一评估参数；获得所述第一光学膜的实际裁切位置；根据所述第一光学膜的实际裁切位置，获得第二评估参数；将所述第一评估参数和所述第二评估参数输入光学膜裁切质量评估模型，获得第一评估结果。解决了现有的不能对光学膜裁切质量进行全面合理评估的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 膜裁切 质量 评估 方法 系统 | ||
【主权项】：
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