[发明专利]一种谷粒长宽测量方法在审
| 申请号： | 202110326009.1 | 申请日： | 2021-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113256704A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 马燕;赵金凤;朱旻;雍开成;魏鑫;黄学辉 | 申请（专利权）人： | 上海师范大学 |
| 主分类号： | G06T7/62 | 分类号： | G06T7/62;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/00;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司： | 上海宛林专利代理事务所(普通合伙) 31361 | 代理人： | 张明 |
| 地址： | 200234 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种谷粒长宽测量方法，包括以下步骤：准备谷粒图像数据集，并对谷粒进行打标构成训练数据集；构造特征金字塔卷积神经网络模型；获取谷粒图像，并对谷粒图像进行分块和归一化预处理；将预处理后的谷粒图像作为训练样本，利用卷积核逐步提取谷粒图像的特征和大小信息，并利用反向传播和随机梯度下降算法有监督地最小化损失函数，从而获得模型的连接权重，获得训练好的神经网络模型；将待测试的谷粒图像进行分块和归一化处理，然后输入训练好的网络模型中，得到谷粒检测结果；将谷粒检测结果的谷粒像素长宽值转换为实际的长宽值。本发明的一种谷粒长宽测量方法，具有简单、易用、成本低、快速、精度高等优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 谷粒 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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