[发明专利]非原子性缺陷的检测方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110312017.0 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN112966489A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 张平;邵俊;朱玉屏;申岳;蔡一涵;杨卫东 | 申请（专利权）人： | 中国民用航空上海航空器适航审定中心;上海复佳信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F40/194 | 分类号： | G06F40/194;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京智晨知识产权代理有限公司 11584 | 代理人： | 张婧 |
| 地址： | 200030*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施方式涉及数据处理领域，公开了一种非原子性缺陷的检测方法、电子设备及存储介质。本发明中，非原子性缺陷的检测方法包括：将需求语句输入检测模块；其中，所述检测模块为预先训练至收敛的用于判断需求语句是否存在非原子性缺陷的模型，所述检测模块包括迁移学习模型和卷积神经网络模型；根据所述检测模块的输出数据，判断所述需求语句是否存在非原子性缺陷。该实施方式提高了非原子性缺陷检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 原子 缺陷 检测 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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