[发明专利]一种光电耦合器的试验测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202110298363.8 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN112986783A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 顾汉玉;季伟;徐刚;陈泓翰 | 申请（专利权）人： | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;吕诗 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光电耦合器的试验测试系统，包括试验测试设备、数据监测与处理模块、测试分析评估模块、环境模拟测试模块、参数干扰校准模块和测试干扰评估输出模块，测试分析评估模块根据各输入电压下的电流传输比分析出光电耦合器所对应的故障种类，测试干扰评估输出模块建立温度和湿度对光电耦合器的性能干扰模型。本发明能够准确筛选出光电耦合器的故障种类，且通过对光电耦合器受环境中的温度和湿度进行单一变量分析，以获得温度和湿度对光电耦合器的性能干扰程度，并建立性能干扰模型能够预测出光电耦合器在实际使用环境下所对应的综合性能稳定衰减系数，便于维修人员及时根据性能衰减程度对光电耦合器进行更换或维修。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 耦合器 试验 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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