[发明专利]一种晶圆解键合设备在审
申请号: | 202110281462.5 | 申请日: | 2021-03-16 |
公开(公告)号: | CN112885756A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 沈达;薛亚玲;蒋人杰 | 申请(专利权)人: | 吾拾微电子(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区金鸡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种晶圆解键合设备,包括电气控制柜、工控机、操作面板、作业平台、丝杆滑台、上料台、解键合机构以及负压加载机构,所述电气控制柜内置工控机、操作面板和作业平台,所述操作面板电性连接工控机,所述作业平台上设置有与工控机电性连接的丝杆滑台,所述丝杆滑台上沿线径设置有分别与工控机电性连接的上料台和解键合机构,所述丝杆滑台尾部上方架设有电性连接工控机的负压加载机构。通过上述方式,本发明提供一种晶圆解键合设备,通过解键合机构与上料台、负压加载机构的协同匹配,建立零压加持环境来杜绝晶圆与设备间的摩擦、接触、受力,从而极大降低解键合废片率,显著增加易耗件使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶圆解键合 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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