[发明专利]单元探测器光学层析扫描时分调制成像系统有效
申请号: | 202110033103.8 | 申请日: | 2021-01-11 |
公开(公告)号: | CN112866529B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 李保生;韩宝坤 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;H04N5/217;H04N5/232 |
代理公司: | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 金宇平 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种单元探测器光学层析扫描时分调制成像系统,包括沿着待成像物体的成像面的正面方向顺序布置的像旋转装置、柱面镜和成像探测器;像旋转装置用于对入射的物体图像进行旋转,以生成旋转图像;柱面镜用于对入射的旋转图像进行一维积分放大;成像探测器用于采集经柱面镜一维积分放大后的旋转图像。本发明通过柱面镜对光信号进行一维积分,实现了对光信号的信号加强,即对经过柱面镜的旋转图像在积分方向上进行像素值提升。通过柱面镜和成像探测器的配合,相当于对待成像物体的反射光进行二次积分,使得成像探测器获得到的旋转图像的像素更加易于区分,从而使得最终获得的待成像物体的重构二维图像更加清晰。 | ||
搜索关键词: | 单元 探测器 光学 层析 扫描 时分 调制 成像 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学,未经合肥工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110033103.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。