[发明专利]光设备及光检测系统在审

专利信息
申请号: 202080023953.3 申请日: 2020-04-14
公开(公告)号: CN113614632A 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 桥谷享;稻田安寿;江良正范 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G02F1/295 分类号: G02F1/295;G02B6/122;G02B6/124
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 高迪
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 光设备具备:第1反射镜,具有第1反射面,沿着第1方向延伸;第2反射镜,具有与所述第1反射面对置的第2反射面,沿着所述第1方向延伸;以及光波导层,位于所述第1反射镜与所述第2反射镜之间,使光沿着所述第1方向传播;所述第1反射镜的透射率比所述第2反射镜的透射率高,所述第1反射镜及所述第2反射镜中的至少一方的与从反射面的法线方向入射的光对应的反射谱为:在反射率为90%以上的波段中包含极大点、以及比所述极大点靠长波长侧的第1拐点及第2拐点。
搜索关键词: 设备 检测 系统
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  • 赵复生;王硕;王宇 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-06-17 - 2020-08-28 - G02F1/295
  • 本发明公开了一种波导光栅天线构建方法及装置,先获取目标波导光栅天线预先划分好的每个分段的辐射角度和辐射比例,然后,针对所述每个分段,基于该分段的辐射角度和辐射比例,从预先设置的仿真结果信息库中匹配得到该分段的结构参数值,仿真结果信息库中存储有辐射角度与结构参数值的第一对应关系,以及辐射比例与结构参数值的第二对应关系,从而就可以基于每个分段的结构参数值,构建目标波导光栅天线,能够在保证设计精度的同时,高效地实现波导光栅天线的构建。
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