[实用新型]一种集成电路测试装置有效
| 申请号： | 202023233670.8 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN213875932U | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 吴佩玉 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯电易科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H05K7/20 |
| 代理公司： | 深圳市世通专利代理事务所(普通合伙) 44475 | 代理人： | 刘付靖 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括工作台和集成电路测试仪主体，工作台的底端转动连接有万向轮，工作台的顶端设置有集成电路测试仪主体，集成电路测试仪主体的一侧固定设置有挡尘板，挡尘板的四周均连接有紧固螺栓，集成电路测试仪主体的一侧固定设置有固定框，固定框的一侧连接有风扇，固定框的顶端固定设置有安装框架。本实用新型通过散热网的设置，便于当集成电路测试仪主体内温度不过高时，对集成电路测试仪主体进行散热，通过制冷器的设置，当需要在短时间内测试几个集成电路，但集成电路测试仪主体内温度过高，此时可以启动制冷器工作，对集成电路测试仪主体的内腔快速降温，通过风扇的设置，便于对集成电路测试仪主体持续散热。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
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