[实用新型]一种集成电路测试装置有效

专利信息
申请号: 202023233670.8 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN213875932U 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 吴佩玉 申请(专利权)人: 深圳市芯电易科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;H05K7/20
代理公司: 深圳市世通专利代理事务所(普通合伙) 44475 代理人: 刘付靖
地址: 518000 广东省深圳市龙华区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种集成电路测试装置,包括工作台(1)和集成电路测试仪主体(3),其特征在于,所述工作台(1)的底端转动连接有万向轮(2),所述工作台(1)的顶端设置有集成电路测试仪主体(3),所述集成电路测试仪主体(3)的一侧固定设置有挡尘板(12),所述挡尘板(12)的四周均连接有紧固螺栓(11),所述集成电路测试仪主体(3)的一侧固定设置有固定框(4),所述固定框(4)的一侧连接有风扇(5),所述固定框(4)的顶端固定设置有安装框架(8),所述安装框架(8)的一侧设置有透明玻璃板(9),所述集成电路测试仪主体(3)远离挡尘板(12)的一侧固定连接有PLC控制器(15),所述集成电路测试仪主体(3)的内腔一侧固定设置有制冷器(16),所述制冷器(16)的一侧连接有包装罩(17)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述集成电路测试仪主体(3)内腔的一侧开设有多个通孔,所述通孔的一侧固定设置有散热网(10)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述集成电路测试仪主体(3)的一侧转动连接有密封盖板(6),所述密封盖板(6)的顶端固定设置有绝缘板(7)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述集成电路测试仪主体(3)的内腔底端开设有测试放置槽(14),所述测试放置槽(14)的一侧固定连接有继电器矩阵板(13)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述制冷器(16)的型号为SL52,所述制冷器(16)与集成电路测试仪主体(3)的内腔螺栓连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述固定框(4)的内腔设置有连接板,所述风扇(5)与连接板转动连接,所述风扇(5)的内腔固定设置有微型电机。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述PLC控制器(15)的型号为AFPXOL30R,所述PLC控制器(15)的一侧设置有控制按钮与通信按钮。

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