[实用新型]一种产品测试座有效

专利信息
申请号: 202021496654.5 申请日: 2020-07-24
公开(公告)号: CN212322976U 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 王锐;郑之旭;侯新安 申请(专利权)人: 上海旻艾半导体有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/66
代理公司: 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 32274 代理人: 邱兴天
地址: 200120 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种产品测试座,基本结构包括基座、测试片底座、测试片和陶瓷片,所述基座中间设置有通孔,且通孔内部两侧均设置有镶嵌槽,所述镶嵌槽内设置有测试片底座,所述测试片底座上端面设置有陶瓷片,测试片底座的下端面均匀设置有通孔,测试片底座内镶嵌有测试片,所述测试片包括上针脚和下针脚,所述陶瓷片上端面均匀设置有凹槽。该产品测试座的测试片相互独立,测试片底座、测试片和陶瓷片可以拆卸,当其中一个测试片发生断裂的情况下,只需要拆卸更换一个即可,不需要全部更换,大大节省了成本,而且测试片底座可以对测试片的上针脚进行支撑,压测时受到支撑,不易折断,延长使用寿命,同时该测试座安装简单,减少了停机时间。
搜索关键词: 一种 产品 测试
【主权项】:
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