[发明专利]一种薄壁回转体工件壁厚测量系统在审
| 申请号： | 202011641852.0 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112815886A | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 张振;许有昌;卜雄洙;丁岳峰;胡伟叶;孟哲;平德佳;单政;马凯 | 申请（专利权）人： | 南京晨光集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B17/02 | 分类号： | G01B17/02;G01B5/00 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 陈鹏 |
| 地址： | 210006 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种薄壁回转体工件壁厚测量系统，包括超声壁厚测量子系统、工件对中固定子系统、运动扫查子系统、耦合剂供应子系统和软件系统；所述工件对中固定子系统用于固定待测工件；所述运动扫查子系统带动超声壁厚测量子系统实现对待测工件壁厚测量；所述软件系统基于工控机以数据线为介质与超声壁厚测量子系统、测试工件对中固定系统、运动扫查子系统、耦合剂供应子系统进行报数据通讯。本测量系统具有可靠性高、测量重复性好等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄壁 回转 工件 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京晨光集团有限责任公司，未经南京晨光集团有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011641852.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
