[发明专利]光学装置和光学装置测试方法有效
| 申请号： | 202011561451.4 | 申请日： | 2020-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN113340808B | 公开（公告）日： | 2023-10-10 |
| 发明（设计）人： | 杉山昌树 | 申请（专利权）人： | 富士通光器件株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G02B27/28;G02B27/42 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 刘久亮;黄纶伟 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 光学装置和光学装置测试方法。一种光学装置，该光学装置包括光电路和光学连接到光电路的测试电路。测试电路包括：第一光栅耦合器，其被配置为接收测试光；第二光栅耦合器，其被配置为输出通过了第一光栅耦合器的测试光作为参考光；以及第一分支耦合器，其被连接到第一光栅耦合器的输出。第一分支耦合器包括连接到光电路的输入并且被配置为将来自第一光栅耦合器的测试光分支并输出到光电路的第一输出。此外，第一分支耦合器包括连接到第二光栅耦合器的输入并且被配置为将来自第一光栅耦合器的测试光分支并输出到第二光栅耦合器的第二输出。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
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