[发明专利]硅-旋磁铁氧体嵌套结构及其制作方法有效
申请号: | 202011485464.8 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN112234330B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 林亚宁;赖金明;周俊;倪经;陈学平;李林玲;吴燕辉;徐德超 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第九研究所 |
主分类号: | H01P1/36 | 分类号: | H01P1/36;H01P1/38;H01P11/00 |
代理公司: | 绵阳市博图知识产权代理事务所(普通合伙) 51235 | 代理人: | 黎仲 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了硅‑旋磁铁氧体嵌套结构,属于微波集成器件微加工领域,包括硅腔体和嵌入至所述硅腔体内的旋磁铁氧体,其特征在于:在所述旋磁铁氧体的侧面和下表面设置有金属薄膜粘附层,并在所述金属薄膜粘附层上设置有氮化硅薄膜层;本发明还公开了上述嵌套结构的制作方法,包括旋磁铁氧体超声清洗、在旋磁铁氧体上表面和侧面溅射一层金属薄膜粘附层;本发明在高温或者温度冲击的过程中,可以保证硅与旋磁铁氧体热膨胀不会失配,保证MEMS硅基腔体环行器/隔离器器件的可靠性,硅与旋磁铁氧体嵌套结构发生热膨胀失配的可能性大大降低,嵌套结构热稳定性提高,满足MEMS硅基腔体环行器/隔离器器件对可靠性的要求。 | ||
搜索关键词: | 磁铁 嵌套 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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