[发明专利]质子注量率测量装置及系统有效
| 申请号： | 202011419740.0 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112558138B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 张艳文;郭刚;刘建成;覃英参;殷倩;肖舒颜;杨新宇 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 | 代理人： | 王鹏鑫 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种质子注量率测量装置及系统，其中该装置包括吸收结构和补偿结构，吸收结构用于吸收入射的质子束流；补偿结构沿质子束流的入射方向设置于吸收结构之前，在测量质子束流注量率过程中为吸收结构提供二次电子发射补偿；其中，吸收结构和补偿结构采用的材料均为石墨。通过本公开实施例的质子注量率测量装置，可以通过二次电子发射补偿，避免高压电源的使用，在方便操作的同时，还确保了测量的准确率。同时，由于补偿结构和吸收结构的材料均采用石墨，使得该装置在大气下即可以实现质子注量率的测量，同时极大地降低了残余伽马辐射剂量，降低了探测过程中的电离辐射，确保试验人员的安全。 | ||
| 搜索关键词： | 质子 注量率 测量 装置 系统 | ||
【主权项】：
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