[发明专利]一种大口径光学系统检测方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011377267.4 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN112556997B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 张学军;胡海翔;陶小平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B27/30 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 巴翠昆 |
| 地址： | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种大口径光学系统检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：设计具有矩形主镜的矩形孔径平行光管；对矩形孔径平行光管进行自准直标定；控制标定后的矩形孔径平行光管多角度旋转以进行被检光学系统不同方向上的全视场覆盖成像性能检测；融合被检光学系统所有视场的成像性能检测数据，获取被检光学系统的整体成像性能评估结果。本申请通过矩形孔径平行光管多角度旋转来进行大口径光学系统成像性能检测，成本低，性能高，对被检光学系统视场不同方向上的成像性能检测数据进行融合后，就可以实现大口径光学系统的高精度测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 口径 光学系统 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011377267.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
