[发明专利]一种基于样本过采样的稀疏表示高光谱图像目标检测方法在审
| 申请号： | 202011335905.6 | 申请日： | 2020-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN112365490A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 陶洋;林飞鹏;杨雯;翁善 | 申请（专利权）人： | 重庆邮电大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/194;G06K9/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400065*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于样本过采样的稀疏表示高光谱图像目标检测方法，方法包括：首先从待检测的高光谱图像上选择目标训练样本和背景训练样本；然后利用合成少数类的过采样技术生成新的目标训练样本，扩充目标训练样本的数量从而平衡目标和背景训练样本之间的数量；然后构建稀疏表示模型并计算稀疏向量重构残差，计算目标检测统计值；最后根据目标检测统计值，实现目标检测。本发明的有益效果是：针对目前稀疏表示在高光谱图像目标探测领域应用时，在字典构造过程中，目标训练样本与背景训练样本不平衡的问题，本发明利用合成少数类样本技术进行目标训练样本扩充，解决样本数量不平衡的问题，能够更为精确地恢复测试像元的稀疏表示向量，使得目标检测效果得到了进一步提升。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 样本 采样 稀疏 表示 光谱 图像 目标 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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