[发明专利]一种光电探测器的光电响应测量方法有效
| 申请号： | 202011297897.0 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN112556740B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 张尚剑;王梦珂;徐映;何禹彤;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光电探测器的光电响应测量方法，属于光电子技术领域，旨在提供一种用于光电探测器光电响应测量的宽频段、高精细、自校准方法。本发明利用光学频率梳的重复频率将待测光电探测器的测量频率范围分段，在段内，通过电光强度调制器上加载的幅度调制，分析特定的频率分量，去除电光强度调制器的影响，得到待测光电探测器在每段内的光电响应，之后设置幅度调制微波信号源的输出频率，进行段间拼接并消除光学频率梳的影响，最终得到了待测光电探测器的宽频段光电响应，其中，通过改变幅度调制微波信号源的输出频率就可以实现待测光电探测器在宽频段内任意频率的光电响应测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 探测器 响应 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011297897.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种家用环保设备
- 下一篇：一种火箭发动机试验工艺系统三维表征方法
