[发明专利]850nm波段吸收区部分耗尽光电探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011291398.0 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN112420859B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 陈佰乐;谢治阳 申请(专利权)人: 上海科技大学
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/105;H01L31/18
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 徐俊
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种850nm波段吸收区部分耗尽光电探测器及其制备方法。所述光电探测器包括半导体主体、阴极、阳极、钝化薄膜、且该两个金属电极的表面与共面波导电极连接;半导体主体的结构包括依次复合的半绝缘GaAs衬底、缓冲层、阴极接触层、过渡层、耗尽GaAs吸收层、非耗尽GaAs吸收层、覆盖层、阳极接触层。制备方法为:在半绝缘GaAs衬底上依次生长出阴极接触层缓冲层、阴极接触层、过渡层等制得半导体主体;制备环形阳极、第一层台阶、阴极、第二台阶、钝化薄膜、共面波导电极。本发明可以工作于850nm波段,具有低暗电流、高响应度、高响应带宽的特点,能够满足850nm波段短距离光互联系统的需求。
搜索关键词: 850 nm 波段 吸收 部分 耗尽 光电 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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