[发明专利]缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011191743.3 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112288723B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 牛临潇;李诚 | 申请（专利权）人： | 北京市商汤科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/50;G06V10/40;G06V10/74 |
| 代理公司： | 北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889 | 代理人： | 吴迪 |
| 地址： | 100080 北京市海淀区北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，该方法包括：获取待检测图像、以及模板图像；对所述待检测图像进行特征提取，得到所述待检测图像的第一特征图，并对所述模板图像进行特征提取，得到与所述模板图像对应的第二特征图；将所述第一特征图、以及所述第二特征图进行特征混淆处理，得到特征融合图像；基于所述特征融合图像，得到所述待检测图像的缺陷检测结果。本公开实施例具有更高的缺陷检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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