[发明专利]一种可分析O型圈线径对高压密封性能影响的测试装置有效
| 申请号： | 202011183546.7 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112304595B | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 郭飞;黄毅杰;项冲;张兆想;程甘霖;谭磊;贾晓红;王玉明 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01M13/005 | 分类号： | G01M13/005;G01M3/26 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 段俊涛 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种可分析O型圈线径对高压密封性能影响的测试装置，包括缸体，缸体的侧壁连通有进气管和出气管，承接盖、压紧垫、中心锥形盖、大锥形盖通过螺纹压盖安装于缸体顶部，环绕中心锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干设置有小线径O型圈的条环形密封槽一，环绕大锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干条设置有大线径O型圈的环形密封槽二。本发明利用中心锥形盖侧面凸起和大锥形盖的配合，以及大锥形盖和缸体的配合，分别实现小线径和大线径橡胶O型圈的线径控制。并通过外、内三角垫的交替使用，以及缸盖密封三角垫、环形垫组合密封结构，保证小线径和大线径O型圈测试过程中泄漏通道的唯一性，实现不同密封介质压力下泄漏率与O型圈线径关系的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分析 型圈线径 高压 密封 性能 影响 测试 装置 | ||
【主权项】：
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