[发明专利]一种量子精密测量设备在审
| 申请号： | 202011180847.4 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112444763A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 李生好;雷国平;吴媛媛 | 申请（专利权）人： | 重庆工程职业技术学院 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02;G01R33/00 |
| 代理公司： | 济南鼎信专利商标代理事务所(普通合伙) 37245 | 代理人： | 陈良 |
| 地址： | 402260 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及量子测量技术领域，尤其涉及一种量子精密测量设备，包括底座、支撑架和安装座；底座为顶部带有开口的立方体结构；底座的内部集成有用于供电的电源；底座内部中空；支撑架的底部设置有连接座；支撑架的内部中空形成用于布置线路的线槽；安装座设置在支撑架的顶部，安装座的中部形成安装区，安装区上集成有量子检测系统；安装区上嵌入设置有显示模块；安装座的外周上设置多个供量子传感器安装的安装槽，安装槽上设置有焊盘；焊盘上设置有与量子传感器信号连接的信号线；相邻设置的安装槽之间设置有隔板，本发明相对于传统的测量设备，利用量子传感器，降低干扰大大提高了测量的精确性和准确性，降低了误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量子 精密 测量 设备 | ||
【主权项】：
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