[发明专利]元器件技术状态变更评估方法在审

专利信息
申请号: 202011121546.4 申请日: 2020-10-20
公开(公告)号: CN112508327A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 支越;罗宏伟;周帅;马凌志;王斌;江凯 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 郭凤杰
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种元器件技术状态变更评估方法,其包括:分析判断所述技术状态变更是否为编辑性变更;如果所述技术状态变更为编辑性变更,则评价判断所述技术状态变更是否可行;如果所述技术状态变更不为编辑性变更,则对所述技术状态变更进行风险评估;根据所述风险评估的结果,评价判断所述技术状态变更是否可行。本申请可以为元器件生产研制单位完成技术状态变更提供审核与验证,完善企业技术状态管理制度,协助企业控制成本,提升产品质量。
搜索关键词: 元器件 技术 状态 变更 评估 方法
【主权项】:
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