[发明专利]软件测试缺陷分析方法及装置在审
| 申请号： | 202011055410.8 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112363911A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 胡尚禹 | 申请（专利权）人： | 武汉虹旭信息技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张睿 |
| 地址： | 443000 湖北省武汉市江*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种软件测试缺陷分析方法及装置，其中，该方法包括：以目标属性为单位，对结构化的缺陷列表数据进行分类统计，获取分类统计结果；对结构化的缺陷列表数据和分类统计结果进行关联分析，获取关联分析结果。本发明实施例提供的软件测试缺陷分析方法及装置，能获取缺陷分布和缺陷状态结果，能从更多维度综合分析缺陷，能发现缺陷之间潜在的关联性，能发现软件测试存在的问题，能提高测试的工作效率，能提高软件开发流程的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 软件 测试 缺陷 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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