[发明专利]基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法在审

专利信息
申请号: 202011046805.1 申请日: 2020-09-29
公开(公告)号: CN111965131A 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 陈林聪;李欣然;陈晓琳;张瑞恩;符小桃;符传福 申请(专利权)人: 海南电网有限责任公司电力科学研究院
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 陈欢
地址: 570100 海*** 国省代码: 海南;46
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摘要: 发明提供基于红外光谱特征峰比值法的复合绝缘子老化评价方法,其包括以下步骤:步骤A:获取复合绝缘子伞裙的硅橡胶样品的表面红外光谱Si‑O‑Si、Si‑CH3特征吸收峰面积S、C;步骤B:获取硅橡胶样品的基体红外光谱Si‑O‑Si、Si‑CH3特征吸收峰面积S、C;步骤C:计算Si‑O‑Si、Si‑CH3特征吸收峰面积衰减程度△S和△C,计算公式如下:步骤D:对Si‑O‑Si、Si‑CH3特征吸收峰面积衰减程度△S和△C进行分级判断,得出复合绝缘子老化状态程度。本发明通过计算Si‑O‑Si、Si‑CH3特征吸收峰面积衰减程度,能够准确灵敏的判断复合绝缘子的老化状态程度。
搜索关键词: 基于 红外 光谱 特征 比值 复合 绝缘子 老化 评价 方法
【主权项】:
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