[发明专利]卫星单点漏率测试用正压标准漏孔标定装置及方法在审
| 申请号： | 202011028629.9 | 申请日： | 2020-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN112051009A | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 刘胜;师立侠;王凯;丁冉;刘兴悦;周雪茜;孟冬辉;孙立臣;李斌;贾瑞金 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01M3/20 | 分类号： | G01M3/20 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 成丹 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种卫星单点漏率测试用正压标准漏孔标定装置及方法，正压漏孔的标定过程中，氦质谱检漏仪分别连接收集容器和标准气罐，使得测试过程可以处于正常大气压环境下，有效避免了大气压力变化产生的影响，同时，在每次氦浓度值测量环节均测试3次，可有效避免因氦质谱检漏仪自身因素导致的不确定度，排除掉大气压力和氦质谱检漏仪的影响后，正压标准漏孔的校准漏率与出厂漏率偏差较小，可以得到较为准确的校准标定因子，使得卫星单点漏率测试的数值较为稳定，从而有效提高测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 卫星 单点 测试 正压 标准 漏孔 标定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星环境工程研究所，未经北京卫星环境工程研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011028629.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
