[发明专利]一种透明晶圆薄膜应力测量系统有效
申请号: | 202011018352.1 | 申请日: | 2020-09-24 |
公开(公告)号: | CN112082677B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 耿晓杨;陈杨;季建峰 | 申请(专利权)人: | 无锡卓海科技有限公司 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24;G01B11/255;G01B11/06;H01L21/66 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 聂启新 |
地址: | 214000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种透明晶圆薄膜应力测量系统,涉及半导体技术领域,包括共焦测距传感器、传感器固定台、晶圆固定台、传感器控制器、控制单元和计算机,传感器固定台带动共焦测距传感器沿水平x方向和垂直晶圆固定台z方向移动,传感器控制器连接共焦测距传感器,控制单元分别连接传感器控制器和传感器固定台,控制单元根据距离值调整传感器固定台沿x方向和z方向的位移值,以完成透明晶圆一个直径方向的测量,将距离值与传感器固定台对应的位移值进行处理得到透明晶圆在镀膜前的基片厚度、基片表面曲率以及镀膜后的膜厚、覆膜表面曲率,计算机连接控制单元,用于计算透明晶圆的应力数据,本系统利用光谱共焦测距技术提升了应力数据的准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 透明 薄膜 应力 测量 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡卓海科技有限公司,未经无锡卓海科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011018352.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种低温超微粉碎工艺
- 下一篇:一种多功能高精度电子测量平台