[发明专利]缺陷检验的方法在审

专利信息
申请号: 202011015575.2 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN112666791A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 唐存正;张浩铭;许盛昌;林政旻 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G03F1/84 分类号: G03F1/84;G06T7/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 李春秀
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明实施例涉及缺陷检验的方法。根据本发明的一些实施例,一种缺陷检验方法包含:接收具有多个图案的衬底;获得所述衬底的灰度图像,其中所述灰度图像包含多个区,且所述区中的每一者具有灰度值;比较每一区的所述灰度值与灰度参考以定义第一群组、第二群组及第N群组,其中所述第一群组、所述第二群组及所述第N群组中的每一者具有至少一区;执行计算以获得得分;及当所述得分大于一个值时,确定所述衬底具有ESD缺陷,且当所述得分小于所述值时,确定所述衬底不具有所述ESD缺陷。
搜索关键词: 缺陷 检验 方法
【主权项】:
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