[发明专利]一种基于多层微带天线的应变裂纹解耦测量传感器在审
| 申请号： | 202011010376.2 | 申请日： | 2020-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN112254760A | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 刘志平;郭谦;李润发;余汉锦 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 徐瑛 |
| 地址： | 430070 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于多层微带天线的应变裂纹解耦测量传感器，将多层结构与微带天线传感器结合，包括多层测量贴片天线、信号收发贴片天线；多层测量贴片天线包括裂纹测量贴片和应变测量贴片，通过尺寸不同的馈电线结构与信号收发贴片天线连接；信号收发贴片天线通过号角天线、二路功分器、滤波器与外部设备进行数据通信。本发明将应变测试与裂纹测试布置在同一个区域，可以通过应变测量值对裂纹测试进行微小补偿，相对于现有技术将应变测量和裂纹测量分区布置且忽略结构应变对裂纹测量的影响的方式，本发明能够得到更为精确的裂纹监测解耦值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 多层 微带 天线 应变 裂纹 测量 传感器 | ||
【主权项】：
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