[发明专利]一种用于集成电路制造的多工位测试装置在审

专利信息
申请号: 202011009803.5 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN112255269A 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 徐小宇;何风辰 申请(专利权)人: 郑州竹蜻蜓电子科技有限公司
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72;F16F15/067
代理公司: 郑州芝麻知识产权代理事务所(普通合伙) 41173 代理人: 朱亚飞
地址: 450001 河南省郑州市高新技术产业开发区*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种用于集成电路制造的多工位测试装置,包括下料机构、升降机构、用于带动集成电路板移动的驱动机构、机架,所述下料机构设置在所述机架一侧,所述升降机构设置在所述机架顶部,所述驱动机构设置在所述机架内侧,还包括测试机构和定位带、热感监控摄像头,所述测试机构包括缓冲座、安装板、缓冲弹簧、检测座,所述缓冲座下端安装在所述安装板顶部。本发明利用热感监控摄像头对测量时的集成电路板进行检测,从而可以对被检测电路板的发热部位进行检测,进而便于挑选出不合格的集成电路板,利用缓冲座和缓冲弹簧可以对安装板进行支撑,从而可以在检测座检测时防止压力过大对集成电路板造成损坏。
搜索关键词: 一种 用于 集成电路 制造 多工位 测试 装置
【主权项】:
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