[发明专利]一种用于多焊件自动共晶的通用共晶装置及共晶方法有效
申请号: | 202011000132.6 | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN112289695B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 罗建强;张平升;代忠;文俊凌;伍艺龙;王辉;季兴桥 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603;H01L21/50 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 贾年龙 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于多焊件自动共晶的通用共晶装置,包括方形上组合体与下盘,所述下盘表面阵列分布有多个L型断开结构,用于自动微组装设备的识别和焊件的阵列摆放,以及四角分布设有定位孔,每个L型断开结构包围有通孔,用于固定焊件;所述上组合体包括上盘、中盘、定位销钉及多个焊件定位结构,上盘与中盘重叠固定设置,定位销钉设置在中盘下表面四角与下盘定位孔对应;所述多个焊件定位结构阵列设置于中盘下表面与L型断开结构对应。采用本发明的方案在多焊件的自动微组装流程中,有效实现了单边0.4mm以上任意尺寸,不同形状,不同位置的金属盒体、电路基板及芯片间的自动共晶,适用于多品种,小批量生产的自动共晶流程。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 多焊件 自动 通用 装置 方法 | ||
【主权项】:
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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