[发明专利]一种基于分数匝线圈的探测介质层界面方位的方法在审
| 申请号： | 202010964345.4 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN112083506A | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 唐章宏;许月晨;王芬 | 申请（专利权）人： | 北京唯智佳辰科技发展有限责任公司 |
| 主分类号： | G01V3/28 | 分类号： | G01V3/28;G01V3/38;E21B49/00 |
| 代理公司： | 深圳市行一知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44453 | 代理人： | 杨贤 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于分数匝线圈的探测介质层界面方位的方法包括:采用轴对称缠绕圆形发射线圈，与发射线圈同轴、平行的不对称缠绕的接收线圈，该接收线圈可完全消除无限大均匀介质下发射线圈对接收线圈产生的直耦电动势，只接收发射信号经过地层界面反射回来的信号；采用镜像法计算接收线圈接收的反射场，依据场叠加理论得到接收线圈处的总的电场并采用高斯积分计算接收线圈的感应电动势；依据感应电动势幅值和相角的变化规律实现对层界面方位的高精度测量，通过采用镜像法计算层界面处的反射场，将非轴对称模型转化为轴对称模型，使得计算的模型能够采用轴对称模型的快速算法，对实现层界面方位高精度测量，时时反演介质层信息有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 分数 线圈 探测 介质 界面 方位 方法 | ||
【主权项】：
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