[发明专利]一种二维材料的透射电镜图像识别、分析方法及系统在审
| 申请号： | 202010861477.4 | 申请日： | 2020-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN112132785A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 吴幸;陈新倩 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 杨媛媛 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种二维材料的透射电镜图像识别、分析方法及系统。所述方法包括获取二维材料的透射电镜图像；将所述透射电镜图像中像素大于设定阈值的像素点确定为原子中心；根据确定原子中心后的透射电镜图像和所述二维材料的原子半径，采用多条等高线的多椭圆拟合法，确定原子位置；根据所述原子位置将原子进行连接，得到原子结构图；根据所述原子结构图确定所述二维材料的形貌、角度以及键长。本发明从高分辨(扫描)透射电镜图像中快速识别二维材料的原子位置，并准确确定二维材料的形貌、角度以及键长信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二维 材料 透射 图像 识别 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
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