[发明专利]一种相控阵天线相位校准测量系统及方法有效
| 申请号： | 202010849135.0 | 申请日： | 2020-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN111987462B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 王正鹏;唐思 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | H01Q3/34 | 分类号： | H01Q3/34;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 张乾桢;贾玉忠 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种相控阵天线相位校准测量系统及方法，该系统包括待测相控阵天线，测量暗箱，测量探头。通过在远场增加测量探头的观测角度，测量待测相控阵天线不同配相状态下探头的接收信号，通过本发明提出的算法计算出相控阵天线各个阵列单元初始的幅度和相位信息。该发明可以有效的减小相控阵天线初始幅度相位校准所需要的测量时间和相移状态切换次数，提高了相控阵天线校准系统的测试效率，进而获得相控阵天线各个阵列单元的初始幅度和相位信息。该发明特别适用于相控阵天线的快速校准，可应用于相控阵天线的研发测试和产线测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相控阵 天线 相位 校准 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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