[发明专利]一种超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010800822.3 申请日: 2020-08-11
公开(公告)号: CN111785797B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 黎大兵;郭龙;蒋科;孙晓娟;贾玉萍;臧行 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/0304;H01L31/101;H01L31/18
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供了一种超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器,属于紫外探测技术领域,包括衬底,在所述衬底上依次生长低Al组分的n型AlGaN层、高Al组分的n型AlGaN层、周期性AlxGa1‑xN/AlN超薄量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层;还包括n型电极和p型电极。本发明还提供了上述超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器的制备方法。本发明的超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器,利用超薄多量子阱结构作为器件的吸收工作区,避免了AlGaN材料生长质量差以及禁带宽度随温度变化等问题;在n型AlGaN区生长不同Al组分的异质结构,利用异质结产生的极化电场增强器件对光生载流子的输运能力,提高器件综合性能;器件结构简单、制备方法工艺也简单、应用前景广泛。
搜索关键词: 一种 超薄 量子 结构 algan 紫外 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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