[发明专利]基于MIS-HEMT的边界陷阱的能量分布测试方法及系统有效

专利信息
申请号: 202010776999.4 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN112098790B 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 高汭;贺致远;陈义强;林晓玲;路国光 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 杨明莉
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种MIS‑HEMT的边界陷阱的能量分布测试方法及系统。其中所述方法包括:对所述MIS‑HEMT的栅极施加正向电压应力进行充电,至充电完毕;通过多个放电过程对所述MIS‑HEMT进行充分放电,其中在每一放电过程中均执行以下步骤:降低施加在所述MIS‑HEMT的栅极的正向电压应力;采用spot‑Id sense技术监测所述MIS‑HEMT的放电过程,获取所述MIS‑HEMT的当前电流;根据所述当前电流以及MIS‑HEMT的初始电流,确定电流改变量,并根据所述电流改变量确定所述MIS‑HEMT的当前阈值电压漂移量。
搜索关键词: 基于 mis hemt 边界 陷阱 能量 分布 测试 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010776999.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top