[发明专利]分子属性测定方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202010594496.5 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN111724867B | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 刘淇;陈恩红;郝中楷;陆承镪;黄振亚 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G16C20/30 | 分类号： | G16C20/30;G16C20/70;G16C20/80;G16C60/00;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种分子属性测定方法、装置、电子设备及存储介质，应用于分子技术领域，包括：S1用分子拓扑结构图表示每个带标签分子的分子属性数据和每个无标签分子的分子结构数据；S2、将所有带标签分子和所有无标签分子的分子结构拓扑图输入至预先构建的教师模型，利用半监督学习对所有分子结构拓扑图进行训练，得到教师模型的参数；S3、将教师模型的参数迁移到预先构建的学生模型中；S4、利用带标签分子调整学生模型；S5、利用调整后的学生模型给所有无标签分子均赋予标签，得到带标签分子集；S6、将带标签分子集反馈给教师模型；重复执行步骤S2至S6，直至教师模型和学生模型均收敛，利用收敛后的学生模型预测分子属性。可精准地预测未知分子的属性。 | ||
| 搜索关键词： | 分子 属性 测定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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