[发明专利]显示面板残影测试方法、装置和计算机设备有效
| 申请号： | 202010587180.3 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN111855149B | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 林志明 | 申请（专利权）人： | 合肥维信诺科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 樊春燕 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种显示面板残影测试方法、装置和计算机设备，首先提供灰度相同的基准画面和测试画面。其中，所述测试画面包括测试图形，显示面板显示所述测试画面时，所述测试图形对应的所述显示面板的区域为亮度监测区域，然后控制所述显示面板显示依次显示所述基准画面、所述测试画面和所述基准画面。当所述显示面板第一次显示所述基准画面时，在所述亮度监测区域采集初始亮度值。当所述显示面板第二次显示所述基准画面时，每间隔预设时间长度在所述亮度监测区域采集多个测试亮度值。最后根据所述初始亮度值、所述测试亮度值和所述预设时间长度，判断所述显示面板的残影级别。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 测试 方法 装置 计算机 设备 | ||
【主权项】：
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