[发明专利]一种建筑构件弯曲变形检测传感器及制备方法有效

专利信息
申请号: 202010575999.8 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN111879251B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 蒋维乐;张福政;林启敬;赵娜;赵立波;韩枫;李磊 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 姚咏华
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种建筑构件弯曲变形检测传感器及制备方法,采用硅基底作为梁膜结构与待测建筑构件贴合,在硅基底两端面分别设有二氧化硅层,提高硅基底耐用性,在硅基底另一侧形成背部凹槽,用于固定探针光纤,在端部形成锥形结构的光纤,背部凹槽内形成稳定的光反射空间,利用硅基底与待测建筑构件贴合表面的变形,形成不同的波形的变化,即可快速监测到待测建筑构件的弯曲变形值,采用光纤传感器,其灵敏度高、抗电磁干扰能力强、耐腐蚀、体积小、重量轻,光纤因为透明的材料特点,并不会对影响古建筑的外观,采用梁膜结构,体积小、精度高,具有巨大的应用价值,将光纤技术和梁膜结构相结合,可以有效实现对古建筑木结构变形的高精度检测。
搜索关键词: 一种 建筑 构件 弯曲 变形 检测 传感器 制备 方法
【主权项】:
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