[发明专利]一种用于电容外壳密封性的检测装置及其检测方法在审
| 申请号： | 202010531087.0 | 申请日： | 2020-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN111638012A | 公开（公告）日： | 2020-09-08 |
| 发明（设计）人： | 高建 | 申请（专利权）人： | 安徽理工大学 |
| 主分类号： | G01M3/04 | 分类号： | G01M3/04 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 王依 |
| 地址： | 232001 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于电容外壳密封性的检测装置及其检测方法，属于电容器检测技术领域，包括筒体和一对支架，支架固定连接在筒体的底端，支架上开设有安装孔，筒体的一端设有进料口，进料口上连接有进料机构，进料机构包括进料盖和盒体，进料盖固定连接在盒体上，盒体上开凿有凹槽，筒体的另一端设出水口，出水口上设有第一阀门，筒体的顶端依次设有观察口、加水管、排气管、加压泵和压力表，观察口上螺纹连接有观察盖，观察口上设有密封圈，加水管的下端贯穿筒体的内壁，加水管上设有第二阀门，排气管的下端贯穿筒体的内壁，本方案解决了现有技术中不能同时对多个电容进行检测和筒体封口密闭性差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电容 外壳 密封性 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
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