[发明专利]一种高精度腔体红外发射率测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202010530891.7 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN111678608A 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 徐骏;刘刚;周博;曹康丽;杨碧琦;王惠芬;李瑜婧;潘阳阳;高冬冬;韩贺祥;宋炳坷;张丽新 申请(专利权)人: 上海卫星装备研究所
主分类号: G01J5/52 分类号: G01J5/52;G01J5/58;G01J5/56;G01J5/54
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种高精度腔体红外发射率测量系统及测试方法,包括:短波红外激光器和长波红外激光器发出光束分别经过短波红外激光功率稳定器和长波红外激光功率稳定器稳束后,分别透过密封罐体的第一窗口和第二窗口后到达所述密封罐体罐内,分别经过第一反射镜和第二反射镜反射后,经斩波器调制,经过调制后的光束通过积分球入光口进入积分球,再通过积分球出光口离开所述积分球,离开所述积分球的光束经过遮光光阑到达待测腔体内;被待测腔体反射的光进入所述积分球,进入所述积分球内的光通量通过传感器接收,所述传感器接收到的信号经前置放大电路和锁相放大电路调制放大后被计算机采集。本发明得到腔体的光谱发射率数值。
搜索关键词: 一种 高精度 红外 发射 测量 系统 测量方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海卫星装备研究所,未经上海卫星装备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010530891.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top