[发明专利]多谱段光轴平行性测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 202010435713.6 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111707449B | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 田留德;周艳;王涛;赵建科;曹昆 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王凯敏 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 为了解决当前光轴平行性测试装置不能满足多谱段光电设备各光学分系统光轴平行性的测试问题，本发明提出了一种多谱段光轴平行性测试装置及测试方法。本发明采用离轴抛物面反射镜、分光镜、短波红外相机、宽谱段光源、目标靶和激光光源实现了宽谱段无穷远目标的模拟，根据模拟目标在各光学分系统中成像的位置、各光学分系统参数和平行光管焦距，计算各光学分系统之间光轴的一致性，能够完成多谱段光电设备中可见光成像系统、红外成像系统、激光发射系统、激光接收系统、目视瞄准系统及设备机械基准之间的光轴平行性的测试，能实现当前光电设备光轴一致性的全部要求。 | ||
| 搜索关键词： | 多谱段 光轴 平行 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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