[发明专利]基于双折射晶体视场效应的姿态角实时测量方法及装置有效
申请号: | 202010219763.0 | 申请日: | 2020-03-25 |
公开(公告)号: | CN111380501B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 江浩;张松;谷洪刚;刘世元 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01C1/00 | 分类号: | G01C1/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 孔娜;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于光学测量相关技术领域,其公开了一种基于双折射晶视场效应的姿态角实时测量方法及装置,装置包括相连接的高速偏振测量模块及物体姿态调整模块,高速偏振测量模块包括分别位于物体姿态调整模块相背的两侧的起偏单元及实时检偏单元;物体姿态调整模块包括姿态角控制器、分别连接于姿态角控制器的滚转角调节单元、俯仰角调节单元、偏航角调节单元、高度调节单元及双折射晶体。所述测量方法包括根据高速偏振测量模块测得光学参数进行物体姿态角实时提取算法,以及姿态角测量误差补偿方法。本发明适用性强,能够实现对附有双折射晶体的物体的姿态角大范围高精度实时原位测量。 | ||
搜索关键词: | 基于 双折射 晶体 视场 效应 姿态 实时 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
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