[发明专利]频率特性测定装置、控制装置以及频率特性测定方法在审
| 申请号： | 202010214600.3 | 申请日： | 2020-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN111751616A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 罗威;中村勉 | 申请（专利权）人： | 发那科株式会社 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02;G01R27/30 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供频率特性测定装置、控制装置以及频率特性测定方法，缩短被测定对象的频率特性的测定时间。测定被测定对象的频率特性的频率特性测定装置，具备：多正弦信号生成部，其生成多正弦信号；扫频正弦波生成部，其生成由将预定相位作为初始相位的扫频正弦波和将初始相位移动了一定量而得的扫频正弦波组成的多个扫频正弦波；输入信号切换部，其选择多正弦信号和多个扫频正弦波的某一个并输入到被测定对象；数据取得部，其以预定采样频率取得输入到被测定对象的输入信号的采样数据和从被测定对象输出的输出信号的采样数据；以及特性计算部，其根据所取得的输入输出的采样数据计算出被测定对象中的包含输入输出信号的增益和相位的频率特性。 | ||
| 搜索关键词： | 频率特性 测定 装置 控制 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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